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中圖儀器高分辨率sem掃描電鏡品牌具有空間自由+高效精準(zhǔn)+定制適配+可靠保障的特點(diǎn)，能夠解決檢測(cè)場(chǎng)地受限、操作復(fù)雜拖慢進(jìn)度、振動(dòng)環(huán)境下數(shù)據(jù)不準(zhǔn)測(cè)量痛點(diǎn)。標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿(mǎn)足用戶(hù)對(duì)多類(lèi)型樣品的觀測(cè)需求，實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。

SuperView W1系列納米級(jí)白光干涉三維形貌儀以0.1nm級(jí)分辨率、8μm/s掃描速度、300+種標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，一站式解決超精密測(cè)量精度不足、多材質(zhì)適配難、批量檢測(cè)效率低等測(cè)量難題。應(yīng)用覆蓋半導(dǎo)體、3C電子等多行業(yè)場(chǎng)景，數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)檢測(cè)，賦能精密制造升級(jí)。

中圖儀器CEM3000系列材料觀察分析一體化掃描電鏡4nm高清+40秒快檢！以“空間自由+高效精準(zhǔn)+定制適配+可靠保障”四大核心優(yōu)勢(shì)，直擊B端檢測(cè)核心需求，讓微觀觀測(cè)更靈活、更高效、更可靠！

中圖儀器SuperView W系列0.1nm形貌重復(fù)性白光干涉儀一鍵完成單/多區(qū)域自動(dòng)測(cè)量、批量分析，編程測(cè)量功能可預(yù)設(shè)流程實(shí)現(xiàn)一鍵操作，單個(gè)精細(xì)器件測(cè)量用時(shí)短，大幅提升檢測(cè) throughput。

中圖儀器CEM3000系列納米形貌觀測(cè)掃描電鏡以“空間適配+性能強(qiáng)+易用高效“三大核心優(yōu)勢(shì)，成為你的檢測(cè)增效利器。它操作系統(tǒng)簡(jiǎn)便，使用過(guò)程簡(jiǎn)單快捷。樣品一鍵裝入，自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力（自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度）幫助用戶(hù)在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像，大大提升了使用效率。

NS系列納米臺(tái)階高度測(cè)量?jī)x應(yīng)用場(chǎng)景適應(yīng)性強(qiáng)，其對(duì)被測(cè)樣品的反射率特性、材料種類(lèi)及硬度等均無(wú)特殊要求，可測(cè)量沉積薄膜的臺(tái)階高度、抗蝕劑（軟膜材料）的臺(tái)階高度等。